TSMC BZX55C36
" (2074)BZX55C2V0-BZX55C75 500mW5%Zener Diodes
CPZ58X-BZX55C3V3 THRU CPZ58X-BZX55C15 Zener Diode Die 500mW, 3.3 THRU 15 VOLT
CPZ19-BZX55C6V8 THRU CPZ19-BZX55C33 Zener Diode Die 500mW, 6.8 THRU 33 VOLT
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CPZ18-BZX55C3V3 THRU CPZ18-BZX55C6V2 Zener Diode Die 500mW, 3.3 THRU 6.2 VOLT
BZX55C2V4 thru BZX55C75 Zener Diodes
CPZ28X-BZX55C3V3 THRU CPZ28X-BZX55C33 Zener Diode Die 500mW, 3.3 THRU 33 VOLT
BZX55C2V0-BZX55C75 Zener diode
BZX55C2V0-BZX55C75 ZENER DIODE
BZX55C Series Zener diode
BZX55C2V4 THRU BZX55C100 Zener Diode
Zener Diode BZX55C2V4 THRU BZX55C100
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BZX55C-Series Zener Diode
BZX55C2V4~BZX55C75 AXIAL LEAD ZENER DIODES
BZX55C2V4RL Series 500 mW DO−35 Hermetically Sealed Glass Zener Voltage Regulators
FPQU2.E478892 Optical Isolators - Component
QQQX2.E326243 Electrically Isolated Semiconductor Devices - Component
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QVGQ2.E485897 Isolated Loop Circuit Protectors - Component
QQIJ2.E326854 Power Supplies, Specialty - Component
Conflice Minerals Policy - Responsible Global Supply Chain Management
MC33897T, TSMC Silicon Errata
台积电6厂成品晶圆CE/2018/C4084 SGS测试报告
本报告为SGS出具的一份测试报告,编号为CE/2018/C4084,日期为2018年12月28日。报告内容涉及台湾半导体制造公司(TSMC)提交的TSMC FAB 6完成晶圆的测试结果。测试项目包括有害物质如镉、铅、汞、六价铬、多溴联苯、多溴联苯醚、DEHP、BBP、DBP、DIBP等,以及卤素、多氯联苯、多氯萘、多氯联苯、多氯杂环芳烃、三丁基锡、双(三丁基锡)氧化物、三苯基锡、二丁基锡、二辛基锡、偶氮染料、石棉、氯氟烃、氢氯氟烃、卤代烷、卤代烃等。测试结果显示,所有检测物质均符合RoHS指令(EU)2015/863修正案附件II中规定的限值。
台积电晶圆厂14A成品晶圆(SGS)测试报告(CE/2019/C0366)
本报告为SGS出具的一份测试报告,编号为CE/2019/C0366,日期为2019年12月26日。报告内容涉及台湾半导体制造公司(TSMC)提交的样品,包括TSMC FAB 14A完成的晶圆。测试项目包括有害物质如镉、铅、汞、六价铬、多溴联苯、多溴联苯醚、DEHP、BBP、DBP、DIBP等,以及卤素、多氯联苯、多氯萘、多氯联苯、多氯杂环芳烃、三丁基锡、三苯基锡、二丁基锡、二辛基锡、双(三丁基锡)氧化物、偶氮染料等。所有测试结果均符合RoHS指令(EU)2015/863修订附件II至指令2011/65/EU的规定限制。
台积电同质晶圆RoHS/绿色认证
本文件为SiTime公司关于使用TSMC同质晶圆的RoHS/Green合规证书,文档编号为QI-21 Rev: D01。文件内容包括目的和范围、参考文档、信息以及同质材料成分表。主要目的是证明同质物质符合RoHS/Green标准,并声明无高度关注物质(SVHC)。文件附有SGS分析报告,证明TSMC晶圆使用的同质材料符合RoHS和Green标准。
NB7V52MMNTXG材料成分声明
本资料为Onsemi公司对其产品中含有的物质进行声明的文件。文件详细列出了产品中各种材料的成分、含量、CAS编号等信息,并声明产品符合欧盟RoHS指令的要求。同时,文件还提供了产品的制造信息,如制造地点、重量等。
Reliability Report TSMC 0.25u 1P5M Logic/PCI9X56-BA66BI
台积电15A晶圆厂成品CE/2018/C4089(SGS)测试报告
本报告为SGS台湾有限公司出具的一份测试报告,编号为CE/2018/C4089,日期为2018年12月28日。报告内容涉及台湾半导体制造公司提交的TSMC FAB 15A成品晶圆样品的测试结果。测试项目包括有害物质如镉、铅、汞、六价铬、多溴联苯、多溴联苯醚、DEHP、BBP、DBP、DIBP等,以及卤素、多氯联苯、多氯萘、多氯联苯、烷烃、三丁基锡、二丁基锡、二异辛基锡、三苯基锡、二苯基锡、偶氮染料、石棉、氯氟烃、氢氯氟烃、卤代烷、溴代烷、氢溴氟烃等。测试结果显示,样品中所有测试项目的含量均符合RoHS指令(EU)2015/863修订附件II至指令2011/65/EU的规定限值。
NB7V52MMNG材料成分声明
本资料为Onsemi公司对其产品中含有的物质进行声明的文件。文件详细列出了产品中各种材料的成分、含量、CAS编号等信息,并声明产品符合RoHS指令的要求。同时,文件还提供了产品的重量、制造地点、温度等信息。
NB7V52MMNHTBG材料成分声明
本资料为Onsemi公司对其产品中含有的物质进行声明的文件。文件详细列出了产品中各种材料的成分、含量、CAS编号等信息,并声明产品符合欧盟RoHS指令的要求。同时,文件还提供了产品的制造信息,如制造地点、重量等。
PC5674F迁移至台积电晶圆厂和铜线键合产品变更通知(GC183122)
Teledyne e2v半导体公司宣布,其产品PC5674F将迁移至台积电(TSMC)晶圆厂生产,并采用铜线键合技术。此次变更旨在优化采购流程,提高客户需求满足能力。产品外观、尺寸和功能将保持不变。产品编号和标识将更新为PC5674FK4MZP3,数据表也将相应更新。预计2019年3月提供样品。
表面贴装包装按照EIA/JEDEC标准RS-481包装
本资料详细介绍了表面贴装封装(Surface Mount Packaging)的相关标准,包括EIA/JEDEC RS-481标准下的卷带尺寸、封装类型、最大最小尺寸等参数。资料涵盖了多种封装类型,如SMAF、Micro-SMA、Sub SMA、SOT-23等,并提供了不同尺寸和规格的具体数据。此外,资料还包含了不同封装类型的卷带尺寸、D、E、P0等关键尺寸参数,以及产品类型、卷带尺寸、B1最大值、D1最小值等详细信息。
AXIAL LEAD TAPING SPECIFICATIONS FOR RECTIFIERS
TO-92弹药包规格
本资料详细介绍了TO-92封装规格,包括尺寸、封装类型、包装数量等。资料中列出了不同产品的包装规格,如Ammo Pack、TS-1、DO-41等,并提供了相应的包装尺寸和数量信息。
Packing Information
TS19340CS14 USER MANUAL
TS19820CS USER MANUAL
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